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A-Zoom Inspektionsmikroskope
Excelitas bietet das analytische Inspektionsmikroskop A-Zoomµ Micro® mit Einzelobjektiv für eine hochwertige Abbildung in der Leiterplatteninspektion an. Das kompakte Design mit Einzelobjektiv eliminiert das umständliche Hantieren mit dem Revolverkopf, wodurch der Durchsatz bei der Halbleiterinspektion verbessert wird.